自社製品紹介

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・1MHz~3GHzの広帯域透磁率測定を実現 ・世界初、透磁率の絶対値測定を実現 ・検出部にShielded Loop Coilを採用 ・pc制御により測定のほとんどを自動化 ・高周波磁性材料の特性評価に有用 |
仕様 |
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測定周波数範囲 |
1MHz ~ 3GMHz |
試料寸法(最大) |
幅6mm(容易軸方向)×厚さ1.1mm |
測定点数 |
周波数に対して最大500点(1バイアス) |
データ数 |
バイアス磁界に対して最大5点 |
外部磁界強度 |
ヘルムホルツコイルの中心において最大1kOe |
表示項目 |
各周波数におけるμ、μ’、μ” |
ファイル保存 |
マテリアルパラメータ、μ、μ’、μ”、周波数 |
ブロック図 |
![]() |
標準構成 |
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No |
SYSTEM |
TYPE |
MAKER |
Q.T.Y |
Remarks |
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1 |
Network Analyzer |
8753ES(Std.) |
Agilent Tec. |
1set |
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2 |
Calibration Kit |
85033D(Std.) |
Agilent Tec. |
1set |
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3 |
DC Power Supply |
12A 60V |
KENWOOD |
1set |
GP-IB Controlled |
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4 |
Personal Computer |
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1set |
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5 |
Measuring Jig |
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Ryowa |
1set |
Rfcomponents,Helmholtz coil |
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6 |
Cables |
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1set |
GP-IB,Coaxial etc. |
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7 |
Software |
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ryowa |
1 |
Online instruction manual included |
*1 オプション、アナライザタイプP8753E以外の応用は別途見積り
*2 CPU ペンティアム300MHz以上、GP-IBボード搭載
*3 Windowsは米国 Microsoft Corporationの登録商標です
本製品は東北大学電気通信研究所荒井研究室と共同で
NEDOに係わる中小企業創造基盤技術研究事業「超高周波磁性薄膜透磁率測定装置の
開発(研究代表者:東北大学 山口正洋助教授)」に依り開発したものです。